鉴定试验

概述

通过对主绝缘、匝间绝缘、包含接地的防晕结构进行试验，可以鉴定变频器供电的旋转电机绝缘结构并给出IVIC分级。对整个绝缘结构的这三个部分分别进行评估。通过制造商特有的设计原则调各参数，例如，绝缘材料、可接受的应力、防晕结构、使用的技术、工艺路线和尺寸规范，以确定各组分该设计原则是要被鉴定的。

对于Ⅱ型绝缘结构主绝缘的鉴定，成型绕组线圈或线棒需承受加速电老化以确定电寿命曲线。对于散嵌绕组电机，可以使用散嵌模型线圈或完整绕组。对于匝间绝缘，使用具有平行导体的线棒或线圈试品以获得寿命曲线。局部放电主要引起电老化并导致过早失效是鉴定试验的前提，因此所有的试验应在PDIV之上进行。通常，允许使用正弦电压进行试验。对防晕结构分别进行冲击电压和正弦电压试验。

鉴定试验

鉴定试验以GB/T17948.7-2016规定的绝缘结构功能性评定通用规程为基础，取决于预期应用于变频器供电条件下的绝缘结构(待评结构)与具有满意运行经验的绝缘结构(基准结构)的对比。

对于Ⅱ型绝缘结构，主绝缘和匝间绝缘结构的鉴定试验是按IEC60034-18-32的规定在室温或升高温度下的电压耐久性试验进行。为简单起见,可使用正弦电压对匝间和主绝缘进行电压耐久性试验这种简化忽略了局部放电发生及冲击上升时间影响老化速率的事实。当可行时，推荐在合适的频率下使用冲击电压波形进行寿命试验。

通过使用不同的正弦过电压或频率,可以确定寿命曲线。注意本部分忽略了匝间绝缘和主绝缘之间老化的相互作用。在下述假设基础上,冲击条件下绝缘结构寿命可以从其正弦电压试验的寿命曲线预估出来：

a) 若峰-峰电压值及电压周期数相同,冲击电压和正弦电压下的老化速率相同；

b)电压耐久性系数n，在1kHz以下与频率无关。

通常主绝缘寿命由基频电压峰-峰值及重复率决定。对于2电平变频器,主绝缘主要承受冲击电压重复率下的峰-峰电压(U’pk/pk)。峰-峰值和重复率这两者之间对老化平衡的贡献可使用标准中详细描述的公式进行计算。

通过老化试验对防晕结构进行鉴定,是将绝缘绕组的典型试样放入模拟槽中,分别施加近似于运行时预计的冲击电压和正弦电压,确定是否出现明显的损坏,比如明显的掉色或燃烧根据变频器供电下满意的运行经验,可以获得IVIC等级,标准后续解释了这种推导方法。