匝间冲击耐压试验仪以MCU中央信息处理系统为核心，由它控制高压脉冲发生器对线圈施加一次极短时间的高压脉冲，线圈在脉冲作用下产生自由衰减振荡,其瞬态波形的模拟信号经高速A/D转换器转换成数字信号后反馈至MCU信息处理系统进行时间、电晕量、面积、相位等参数的运算，处理结果保存在MCU信息处理系统的电子存储器中，并用直观易懂的文字、数据及图形显示在240×320点阵液晶模块LCM上，从而保证了波形重现的真实性。并且根据用户设定的条件,对合格或不合格者进行报警处理。

线圈质量检查判断方法：

匝间冲击耐压试验仪有4种典型的自动检查判断方法，用户可以根据被测线圈的实际情况，组合或单独采用；每一种判断方法，均可任意设定、修改临界判断门限，以达到正确、快速检查判断不同线圈品质优劣的目的。具体检查判断方法如如下：

波形面积比较（AREA SIZE）

在任意指定的区间内，对标准线圈和被测线圈波形面积进行比较。

计算出A-B区间内的面积，判定两者面积相差的程度。

判定的标准用百分比（％）进行设定，计算结果在范围内的为合格品。

区间内面积的大小，大体与线圈内能量损耗成比例，故能以此判断能量损耗的大小。

例如被测线圈有匝间短路时，短路部分的反映是能量的损失增大。

波形差面积比较(DIFFERENTIAL AREA)

在任意指定区间内，对标准线圈和被测线圈波形偏差部分的面积与标准线圈波形面积进行比较。

计算出A-B区间内面积差，对比标准波形（同图1.3.2_1）判定偏差的程度。

判定的标准用百分比（％）进行设定，结果在范围内的为合格品。

波形偏差面积的大小表示电感值以及能量损耗程度的总和。

此方法可较全面地检查线圈的电感L值及能量损失。

波形电晕量比较 (FLUTTER VALUE)

在任意指定的区间内，对被测线圈的电晕放电量与设定值进行比较。

基本忽略波形差异，在任意指定的A－B区间内，仅在被测线圈实测波形包含的电晕放电尖峰中检出高频成分进行面积(积分)计算，并将计算结果与设定值进行比较，判定电晕放电量是否合格。

可以认为该量是模拟方式中检出的通过高频滤波器的量值。

波形相位 (过零点)比较(ZERO CROSS)

在任意指定的区间内，对标准线圈和被测线圈波形振荡周期进行比较。

任意指定的A－B区间内，计算被测线圈实测波形在该区间内的振荡周期，并与标准波形在该区间内的振荡周期进行比较，并用这两个量的百分比作为判定依据，基准用百分比来设定。

由于波形的振荡周期与线圈的电感L密切相关，此方法可偏重于检查线圈的电感L值。