局部放电检测仪试验过程中干扰的分类

  由种种原因引起的干扰将严重地影响局部放电检测仪局部放电试验。假使这些干扰是连续的而且其幅值是基本相同的(背景噪声)，它们将会降低检测仪的有效灵敏度，即最小可见放电量比所用试验线路的理论最小值要大。这种形式的干扰会随电压而增大，因而灵敏度是按比例下降的。在其他的一些情况中，随电压的升高而在试验线路中出现的放电，可以认为是发生在试验样品的内部。

  因此，重要的是将干扰降低到最小值，以及使用带有放电实际波形显示的局部放电检测仪，以最大的可能从试样的干扰放电中鉴别出假的干扰放电响应。根据测量试验回路中可能的干扰源位置可将干扰源分为两类：第一类与外施高压大小无关的干扰，第二类是仅在高压加于回路时才产生的干扰。

  局放干扰的分类

  干扰的主要形式如下：

  (1)来自电源的干扰，这类干扰只要控制、调压器与变压器等是接通的(不必升压即可能影响测量;

  (2)来自接地系统的干扰，通常指接地连接不好或多重接地时，不同接地点的电位：差在局部放电检测仪器上造成的干扰偏转;

  (3)从别的高压试验或者电磁辐射检测到的干扰，它是由回路外部的电磁场对回路的电磁耦合引起的包括电台的射频干扰，邻近的高压设备，日光灯、电焊、电弧或火花放电的干扰;

  (4)试验线路的放电;

  (5)由于试验线路或样品内的接触不良引起的接触噪声。